Park NX 10 Ultra Fast Atomik Kuvvet Mikroskobu
Tamamen otomatik olarak çalışabilen, yüksek çözünürlüklü Atomik Kuvvet Mikroskobudur. Sistemin sahip oluğu tarayıcı üniteleri Atomic Force Microscope olarak ultra hızlı görüntü alma imkanı sağlar.
Park NX 10 Ultra Fast Atomik Kuvvet Mikroskobu, tamamen otomatik olarak çalışabilen, yüksek çözünürlüklü Atomik Kuvvet Mikroskobudur. Ayrıca sistemin sahip oluğu tarayıcı üniteleri Atomic Force Microscope olarak ultra hızlı görüntü alma imkanı sağlar.
Park NX 10 Ultra Fast Atomik Kuvvet Mikroskobu Özellikleri
Yüksek çözünürlükte 3D görüntü kalitesi
- Ultra hızlı tarayıcı
- Tamamen programlanabilir Smart Scan yazılım
- Otomatik tarama modu
- Motorize programlanabilir XY tablası
- Opsiyonel Modlar
Chemical Properties
- Chemical Force Microscopy with Functionalized Tip
- Electrochemical Microscopy (EC-STM and EC-AFM)
Dielectric/Piezoelectric Properties
- Electric Force Microscopy (EFM)
- Dynamic Contact EFM (DC-EFM)
- Piezoelectric Force Microscopy (PFM)
- PFM with High Voltage
Park NX 10 Ultra Fast Force Measurement Atomik Kuvvet Mikroskobu
• Force Distance (F-D) Spectroscopy
• Force Volume Imaging
• Spring Constant Calibration by
Thermal Method
Atomik Kuvvet Mikroskobu Electrical Properties
• Conductive AFM
• I-V Spectroscopy
• Scanning Kelvin Probe Microscopy (SKPM/KPM)
• SKPM with High Voltage
• Scanning Capacitance Microscopy (SCM)
• Scanning Spreading-Resistance Microscopy (SSRM)
• Scanning Tunneling Microscopy (STM)
• Scanning Tunneling Spectroscopy (STS)
• Time-Resolved Photo Current Mapping (Tr-PCM)
Magnetic Properties
• Magnetic Force Microscopy (MFM)
• Tunable MFM
Atomik Kuvvet Mikroskobu Mechanical Properties
• Force Modulation Microscopy (FMM)
• Nanoindentation
• Nanolithography
• Nanolithography with High Voltage
• Nanomanipulation
• Piezoelectric Force Microscopy (PFM)
Optical Properties
• Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS)
• Time-Resolved Photo Current Mapping (Tr-PCM)
Thermal Properties
• Scanning Thermal Microscopy (SThM)
