Atomik Kuvvet Mikroskobu Park NX 7 Ultra Fast
Atomic Force Microscope Park System yüksek performanslı Atomik Kuvvet Mikroskobu Sistemleri (Atomic Force Microscope – AFM) AR-Ge merkezlerinde hizmet vermektedir. Ayrıca yüzey topografyasının 3 boyutla görüntülenmesi başta olmak üzere birçok karakterizasyon çalışmasında da kullanılabilmektedir.
Atomik Kuvvet Mikroskobu Ne İşe Yarar?
Atomik Kuvvet Mikroskobu Park NX 7 Ultra Fast (AFM), yüksek çözünürlüklü bir yüzey görüntüleme tekniği olmakla beraber, nanoskala düzeydeki özellikleri inceleme yeteneğiyle bilim ve mühendislik alanlarında kullanılan güçlü bir araçtır. Ayrıca AFM’ nin temel işlevi, bir tarama probu veya ucu aracılığıyla bir yüzeyin topografyasını inceler. Aynı zamanda atomik düzeydeki yükseklik farkları dahil olmak üzere, incelemektir.
AFM, bu işlemi gerçekleştirmek için bir kuvvet algılayıcı kullanır ve bu sayede yüzeydeki etkileşimleri, özellikle atomik çekim ve itme kuvvetlerini, ölçebilir. Bu, örneğin materyallerin mekanik özelliklerini, yüzey pürüzlülüğünü, biyolojik örneklerin yapısını veya moleküler etkileşimleri incelemek için kullanılır.
AFM’ nin avantajları arasında üç boyutlu görüntüleme yeteneği, yüksek çözünürlük, çeşitli ortamlarda (hava, sıvı, vakum) çalışabilme esnekliği ve aynı zamanda atomik düzeyde hassas ölçümler yapabilme yeteneği bulunmaktadır. Bu özellikleri, nanobilimden malzeme bilimine, biyolojiden yüzey kimyasına kadar birçok alanın keşfinde ve ayrıca anlayışında önemli katkılarda bulunmaktadır.
Atomik Kuvvet Mikroskobu Park NX 7 Ultra Fast, tamamen otomatik olarak çalışabilen, yüksek çözünürlüklü ve ayrıca uygun fiyatlı Atomik Kuvvet Mikroskobudur. Böylece sistemin sahip oluğu tarayıcı üniteleri Atomic Force Microscope olarak ultra hızlı görüntü alma imkanı sağlar.
Atomik Kuvvet Mikroskobu Park NX 7 Ultra Fast Kullanım Alanları
Malzeme Bilimi ve Nanoteknoloji: Atomic force microscope malzeme yüzeylerinin nanoskala özelliklerini incelemek için yaygın olarak kullanılır. Böylelikle bu, nanomalzemelerin yapısal, mekanik ve elektronik özelliklerini anlamak için önemlidir. Ayrıca, nanoteknoloji uygulamalarında kullanılan nanoölçekli yapıların karakterizasyonu için de kullanılmaktadır.
Biyoloji ve Tıp: AFM biyolojik örneklerin, hücrelerin ve proteinlerin yüzey topografyasını ve aynı zamanda mekanik özelliklerini incelemede etkilidir. Bu, hücre yapısı, protein katlanması ve moleküler etkileşimlerin anlaşılmasına katkı sağlar. Ayrıca biyomedikal araştırmalarda, ilaç geliştirmede ve biyolojik malzemelerin karakterizasyonunda da önemli bir rol oynar.
Yarıiletken Endüstrisi: Atomic force microscope entegre devre (IC) üretiminde ve bununla birlikte nanoelektronikte kullanılan yarıiletken malzemelerin yüzey özelliklerini incelemede önemlidir. Böylece bu, nanoskala ölçekteki yapılarda kusurları belirlemek ve üretim süreçlerini optimize etmek için kullanılır.
Çevre Bilimleri: Atomic force microscope yüzeydeki nano partiküllerin ve bununla birlikte malzemelerin çevresel etkileşimlerini incelemek için kullanılır. Özellikle, kirleticilerin ve doğal malzemelerin yüzey özellikleri üzerindeki etkileri araştırmak için kullanılmaktadır.
Fiziksel Kimya: Atomik Kuvvet Mikroskobu moleküler yapıları, yüzey reaktivitelerini ve ayrıca moleküler etkileşimleri incelemek için fiziksel kimya alanında yaygın olarak kullanılır.
Enerji Araştırmaları: Park NX 7 Ultra Fast Atomik Kuvvet Mikroskobu enerji depolama ve dönüşüm cihazlarının (örneğin, güneş pilleri ve yakıt hücreleri) nanoskala yüzey özelliklerini ve ayrıca malzeme etkileşimlerini anlamak için kullanılmaktadır.
Atomik Kuvvet Mikroskobu Park NX 7 Ultra Fast Özellikleri:
Yüksek çözünürlükte 3D görüntü kalitesi
- Ultra hızlı tarayıcı
- Tamamen programlanabilir Smart Scan yazılım
- Otomatik tarama modu
- Manuel XY tabla
- Opsiyonel Modlar
Park NX 7 Ultra Fast Chemical Properties
- Chemical Force Microscopy with Functionalized Tip
- Electrochemical Microscopy (EC-STM and EC-AFM)
Atomik Kuvvet Mikroskobu Park NX 7 Ultra Fast Dielectric/Piezoelectric Properties
- Electric Force Microscopy (EFM)
- Dynamic Contact EFM (DC-EFM)
- Piezoelectric Force Microscopy (PFM)
- PFM with High Voltage
Force Measurement
• Force Distance (F-D) Spectroscopy
• Force Volume Imaging
• Spring Constant Calibration by
Thermal Method
Atomik Kuvvet Mikroskobu Park NX 7 Ultra Fast Electrical Properties
• Conductive AFM
• I-V Spectroscopy
• Scanning Kelvin Probe Microscopy (SKPM/KPM)
• SKPM with High Voltage
• Scanning Capacitance Microscopy (SCM)
• Scanning Spreading-Resistance Microscopy (SSRM)
• Scanning Tunneling Microscopy (STM)
• Scanning Tunneling Spectroscopy (STS)
• Time-Resolved Photo Current Mapping (Tr-PCM)
Magnetic Properties
• Magnetic Force Microscopy (MFM)
• Tunable MFM
Park NX 7 Ultra Fast Mechanical Properties
• Force Modulation Microscopy (FMM)
• Nanoindentation
• Nanolithography
• Nanolithography with High Voltage
• Nanomanipulation
• Piezoelectric Force Microscopy (PFM)
Optical Properties
• Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS)
• Time-Resolved Photo Current Mapping (Tr-PCM)
Thermal Properties
• Scanning Thermal Microscopy (SThM)
