AFM Atomik Kuvvet Mikroskobu
Atomik Kuvvet Mikroskobu, malzeme yüzeylerinin üç boyutlu topografik görüntülerini yüzeyi ince bir uç ile tarama yaparak elde etmektedir. TT Atomik Kuvvet Mikroskobu Kompakt yapısı ve uygun fiyatı ile ikinci nesil yüksek çözünürlüklü masaüstü Atomik kuvvet mikroskobudur.
AFM Atomik Kuvvet Mikroskobu
AFM Atomik Kuvvet Mikroskobu, nanobilim ve nanoteknoloji alanında kullanılan güçlü bir yüzey karakterizasyon tekniğidir. AFM yüzeydeki atomik ölçekteki topografik özellikleri görüntülemek ve manipüle etmek için kullanılabilmektedir. Bu mikroskop, bir prob (genellikle bir taramalı uçlu mikroskop iğnesi) ile örnek yüzeyi arasındaki etkileşimi kullanarak görüntüler oluşturmaktadır. Ayrıca Atomik Kuvvet Mikroskobu, malzeme yüzeylerinin üç boyutlu topografik görüntülerini yüzeyi ince bir uç ile tarama yaparak elde etmektedir.
Her çeşitli malzemelerin çeşitli yüzey özelliklerini (sürtünme, yüzey morfoloji ve pürüzlülüğü, tribolojik özellikler, atomik seviyede yüzey kuvvetleri vb.) ve düşük boyutlu nano yapıların ve nano malzemelerin fizikokimyasal yüzey özelliklerinin elde edilmesinde kullanılmaktadır. Böylece Katı hal fiziği, yarıiletken teknolojisi, moleküler mühendisliği, polimer fiziği uygulanmaktadır. Ayrıca kimyası, yüzey kimyası, moleküler biyoloji, hücre biyolojisi ve tıp gibi doğal bilimler gibi birçok alanda uygulanabilmektedir.
Çalışma Prensibi
AFM’ nin çalışma prensibi şu şekildedir:
Probün Taraması: İnce bir prob, örnek yüzeyin üzerinde tarama yapar. BÖylece Prob, ucundaki çok küçük bir ucu olan bir kantileverden oluşmaktadır. Bu kantilever, yüzeye yaklaştıkça eğilir veya bükülür. Yüzeyle olan bu etkileşim, kantileverin mekanik özelliklerinde değişikliklere neden olur.
Kuvvet Algılama: Kantileverin ucunda, probun yüzeye yaklaşmasını veya uzaklaşmasını algılayan bir algılayıcı bulunmaktadır. Bu algılayıcı, yüzeyle etkileşim sonucu oluşan kuvvet değişikliklerini ölçer.
Görüntü Oluşturma: Kantileverin yüzeye yaklaşıp uzaklaşmasının yarattığı bu kuvvet değişiklikleri iletmektedir. Ayrıca örnek yüzeyin topografik özelliklerini yansıtan bir sinyal olarak algılayıcıya da iletilir. Bu sinyal, bir bilgisayar aracılığıyla gerçek zamanlı olarak işlenir ve görüntü oluşturulmaktadır. Sonuç olarak, örnek yüzeyin yüksek çözünürlüklü bir topografik haritası elde edilmektedir.
Avantajları
Yüksek Çözünürlük: AFM atomik ölçekte yüzey topografisini inceleyebilme yeteneği sayesinde yüksek çözünürlük sunar.
Çeşitli Yüzeylerde Kullanım: Metal, polimer, seramik, biyolojik örnekler gibi farklı yüzey türlerinde kullanılabilir.
Gerçek Zamanlı Gözlem: Görüntü oluşturma gerçek zamanlıdır, bu da deneyleri daha etkili hale getirir.
Non-invaziv: Örnek yüzeye müdahale etmeden çalışabilmektedir.
Ancak, AFM’ nin aynı zamanda bazı sınırlamaları da vardır:
Yavaş Tarama: Tarama işlemi diğer mikroskopi tekniklerine göre daha yavaş olabilmektedir.
Karmaşık Örnek Hazırlığı: Örneklerin özel hazırlık gerektirebilmesi, zaman alıcı olabilmektedir.
Deneyci Bağımlılığı: Deneyin kalitesi ve sonuçların yorumu, deneyci tecrübesine dayanır.
AFM, malzeme bilimi, biyoloji, yüzey kimyası, nanoteknoloji, polimer bilimi gibi birçok alanda geniş bir uygulama yelpazesine sahip bir araştırma aracıdır.
TT Atomik Kuvvet Mikroskobu, kompakt yapısı ve uygun fiyatı ile ikinci nesil yüksek çözünürlüklü masaüstü Atomik kuvvet mikroskobu’ dur. TT-AFM aşaması, yüksek çözünürlüklü AFM taraması için gereken mükemmel termal ve mekanik stabiliteye sahiptir. Ek olarak, açık tasarımı kullanıcı değişikliğini kolaylaştırır.
Afm Workshop TT Afm (AFM Atomik Kuvvet Mikroskobu) Özellikleri
- Kompakt,kullanıcı dostu,uygun fiyatlıdır.
- Contact,Non contact,Lateral Force,EFM,MFM Litografi Modları mevcuttur.
- Optic + Video Mikroskop desteği vardır.
- 50 mikron veya 15 mikron XYZ tarayıcısı vardır.
- Lab VIEW kullanım imkanı tanır.
- Titreşim engelleyici kabin ve masaya sahiptir.
