Dört nokta prob ölçüm sistemleri kısaca şu şekilde tanımlanabilmektedir. Yarı iletken ve ince filmlerde yüzeyin öz direnç ve uniformite karakterizasyonu amaçlı çalışmalarda kullanılmaktadır.
Diğer adıyla Four Point Probe sistemleridir. Değişik kalınlıklara sahip numunelerde kullanılmaktadır. Mekanik yapısı hareketli iğnelerin numuneden ölçüm alınacak noktalara temas ettirilmektedir. Sistemin sahip olduğu yazılım sayesinde bilgisayar kontrollü ölçümler alınır.
Dört nokta (dört teminal, dört tel) prob ölçüm sistemleri üzerine firmamız dünyada alanında en iyi markalardan Signatone ve Optosense firmaları ile çalışmalarına devam etmektedir.
Pro4 serisi ölçüm sistemleri dört nokta ölçüm probları, Keithley sourcemeter ve yazılımı yüklü bir bilgisayardan oluşan komple sistemlerdir.
Pro4 serisi ölçüm sistemleri, başta ince film kaplı malzemeler, waferlar, OLED ve cam malzemeler içermektedir. Tekstil, seramik ve nanomalzemelerin üretim ve kalite kontrol çalışmalarında sıklıkla başvurulan gelişmiş sistemlerdir.
Four Point Probe elektriksel iletkenliği ölçmekte kullanılan bir tekniktir. Ayrıca özellikle yarıiletken malzemelerin elektriksel özelliklerini incelemek için kullanılan bir laboratuvar cihazı ve ölçüm tekniğidir. Bu teknik, malzemenin direnç değerini hassas bir şekilde ölçmektedir. Bu direnç değeri üzerinden iletkenlik için kullanılmaktadır. Özgül direnç gibi elektriksel özellikleri belirlemek için de kullanılmaktadır. Four Point Probe ölçümleri malzemenin elektriksel performansını değerlendirir. Kalite kontrolü yapmak için yaygın olarak tercih edilmektedir.
Four Point Probe ölçümünde kullanılan temel bileşenler şunlardır:
Probes: Genellikle ince metal iğnelerden oluşur. Bu iğneler, ölçüm yapılacak malzemenin yüzeyine temas eder. İğneler, dört ayrı noktada malzemeye temas ederler.
Dört Nokta (Four Points): Malzemenin yüzeyine dört ayrı noktada yerleştirilmektedir. İki prob bir akım taşır ve diğer iki prob bu akımın voltajını ölçer. Bu düzenlemeye dört noktalı bir ölçüm denir. Çünkü ölçüm yüzeyi üzerinde sadece dört temas noktası vardır.
Four Point Probe ölçümü yarıiletken malzemelerin özgül direnç, taşıyıcı konsantrasyonu ve hareketlilik gibi temel elektriksel özelliklerini belirlemek için yaygın olarak kullanılmaktadır. Özellikle mikroelektronik cihazların üretiminde ve malzeme karakterizasyonu açısından önemlidir. Ayrıca malzeme bilimi, fizik ve endüstriyel uygulamalarda elektriksel özelliklerin araştırılması için de kullanılmaktadır. Bununla birlikte malzemenin elektriksel performansının anlaşılması ve geliştirilmesi için önemli bir araçtır.
Bu gereksinimlere sahip sistemleri Signatone ve Optosense markalarıyla kullanıcılarına uygun fiyatlar ile kazandırmayı amaçlamaktadır.
