Konfokal Raman (Confocal Raman) Mikroskobu – Fotolüminesans (Photoluminesans)
Konfokal Raman (confocal raman) mikroskobu, cihaza entegre edilmiş gelişmiş bir mikroskop, lazer ünitesi, monokromatör ünitesi aynı zamanda hassas dedektörler içeren komple bir sistemdir. Ayrıca ölçüm parametrelerini gösteren yazılımı içeren bir bilgisayara sahiptir. Böylelikle bu sistem araştırmacılara ulaşılabilecek en yüksek ışık mikroskobu çözünürlüğü sağlar. Böylece hücre altı yapıları, fonksiyonları ve hücre/organizma yapısının temiz bir şekilde görüntülenmesini sağlar. Ayrıca firmamız spektroskopi alanında lider firmalardan Dongwoo Optron firması ile iş birliği yapmaktadır. Ramboss serisi konfokal raman mikroskoplarını ülkemizde laboratuvar ve AR-GE çalışmalarında kullanım amacıyla kullanıcılarına kazandırmaktadır.
Ramboss Star ve Ramboss Sports Raman Mikroskobu ‘nun sahip olduğu konfokal mikro raman, yüzey tarama, polarize raman, Rayleight saçılması ve ayrıca karanlık alan görüntüleme, Floresan yaşam süresi ölçümü ve AFM-Raman ölçüm modları ile karbon bazlı (CNT, Grafen) yüzey ve alt yüzey (subsurface) analizi, tek molekül tespiti, İnce film güneş hücresi kristalizasyonu (a-Si, uc-Si), silikonun stress değerlendirmesi, yarı iletken yüzey yapısı analizleri, polimer katmanların profili, hava kirliliği analizi uygulamaları, Au-Bilyeli Bio Sensörlerin Geliştirilmesi, Nano cluster ve parçacık Koyu Alanı(Dark field) gibi birçok çalışma yapılabilmektedir.
Ayrıca Mikro Fotolüminesans (Photoluminesans) Ölçüm Sistemi
- Mikro/makro PL/RT PLE & EL Sistemi
- Değişken uygulamalar için ölçeklendire bilirlik
- Yüksek çözünürlükte PL görüntüsü
- Opsiyonel Floresans ömrü
- 4 K düşük sıcaklık seçeneği
Ayrıca Ölçümler;
- Oda Sıcaklığında Mikro Fotolüminesans / Haritalama
- Oda Sıcaklığında Mikro Fotolüminesans Eksitasyon (Absorpsiyon)/ Haritalama
- Düşük Sıcaklıkta Mikro Fotolüminesans
- Oda Sıcaklığında Kalınlık
Uygulama Alanları;
- SiC gibi yapısal kusurların SF (Stacking faults) ve TD’ler (triangular defects) gibi analizi
- Yarı iletken karakterizasyonu ve testleri (III-V malzemeleri)
- GaN / ZnO LED wafer yüzey karakterizasyonu
(Yüzey kirletici, homojenlik, Yansıtıcılık ve Kalınlık testi)
- NIR CCD için sensör geliştirme
- Termoelektrik Eleman ile (PBS, PBSE rod)
- LED Malzeme Geliştirilmesi
- TDIPL ve IQE
- III-V PL malzemeleri