+90 312 236 42 07
teknotip@teknotip.com.tr
Anasayfa
Kurumsal
Ürünler
Atomik Kuvvet Mikroskobu
Bilgisayarlı Mikro Tomografi
Profilometre ve Film Kalınlık Ölçüm Sistemi
Stylus Profilometre
Solar Simülatör ve Quantum Test
Tribometre Ve Nano Indenter
Plazma Sistemleri
Glovebox Sistemleri
Döner ve Daldırmalı Kaplama Sistemleri
Dört Nokta Prob Ölçüm Sistemleri
Litografi Sistemleri
Magnetron Sputtering Kaplama Sistemleri
Laboratuvar Fırınları
Potansiyostat / Galvanostat
Spektrometre
Spektrofotometre ve Kolorimetre
Elektrospin Sistemleri
Şırınga Pompası
Dielektrik Empendans Spektrometresi
Yüksek Voltaj Güç Kaynağı
Confocal Raman Ve Photolüminesans
Cryogenic Sistemler
Wire Bonder
Termal Evaporatör
Sarf Malzemeler
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
Elipsometre
Atomik Katman Biriktirme (ALD)
Termal Analiz Sistemleri (DSC / TGA)
Fotokatalitik Reaktör ve Xenon Işık Kaynakları
Batarya Arge Ekipmanları
Örnek Hazırlama
Titreşim Önleyici Tabla
Sertlik Ölçüm Sistemleri
Hizmetler
Temsilcilikler
Blog
İletişim
✕
malzeme yüzey karakterizasyonu
Anasayfa
Ürünler “malzeme yüzey karakterizasyonu” olarak etiketlendi
Afm Work Shop Ls Bio Afm System Atomik Kuvvet Mikroskobu
AFM Atomik Kuvvet Mikroskobu
Park NX 10 Ultra Fast Atomik Kuvvet Mikroskobu
+90 312 236 42 07
teknotip@teknotip.com.tr
